Останнім часом досягнуто значного прогресу в розробці інтенсивних джерел випромінювання і нових оптичних елементів для вакуумної ультрафіолетової частини спектру (ВУФ). Цей прогрес послужив основою для розвитку багатьох перспективних практичних додатків: рентгенолітографія, рентгенівської голографії, мікроскопіїта ін. Для розвитку цих напрямків, зокрема для оптимізації параметрів джерел і вибору оптичних елементів, необхідні якісні кількісні (абсолютні) вимірювання характеристик випромінювання. Однак проведення таких вимірювань в ВУФ діапазоні спектра є досить складним завданням. Справа в тому, що в цьому діапазоні спектра всі речовини володіють великим і сильно мінливих, залежно від довжини хвилі, поглинанням. Тому всі детектори випромінювання вимагають незалежного калібрування по еталонному джерелу у всьому діапазоні довжин хвиль, так як їх чутливість залежить від властивостей і чистоти поверхні, якапоглинає. У представленій роботі показана методика фотометрії монохроматичноговипромінювання в ультрафіолетовій області спектра, використовуючи два прилади: калібрований термостолбік і фотоелектронний помножувач, вікно якого покрито тонким шаром саліцилової-кислого натрію.