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金刚石膜压阻效应的理论研究
廖, 方, 王 and 3 others
Science in China Series A-Mathematics (in Chinese)1 Dec 2001
NobleIDark:/48914/w1/20260515/A9871A41DOI10.1360/za2001-31-12-1135
Journal article
金刚石膜压阻效应的理论研究
廖, 方, 王 and 3 others · Science in China Series A-Mathematics (in Chinese) · 2001 · Subscription
NobleIDark:/48914/w1/20260515/A9871A41DOI10.1360/za2001-31-12-1135
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Abstract
在Fuchs-Sondheimer薄膜理论(F-S理论)和修正的价带分裂模型的基础上, 考虑晶格散射、杂质散射和表面散射, 通过求解弛豫近似下的Boltzmann方程, 利用并联电阻模型从理论上研究了 p -型异质外延金刚石膜的压阻效应, 给出了压阻效应的计算表达式. 从理论上得到了和实验一致的压阻效应的主要特性. 提出了应力作用下分裂带间距变化的模型, 对大应力时饱和压阻的理论和实验误差给出了合理解释.