Постановка проблемы. СВЧ-периодические структуры, называемые СВЧ-брэгговскими структурами, привлекают интерес исследователей в связи с перспективой создания устройств с уникальными характеристиками в СВЧ-диапазоне. В качестве современных электродинамических систем, обеспечивающих реализацию СВЧ-методов контроля электрофизических параметров материалов и структур, могут быть использованы одномерные коаксиальные фотонные кристаллы (КФК) в виде периодически изменяющейся диэлектрической проницаемости диэлектрического наполнения. Цель. Разработать методику измерения параметров материалов и структур, применяемых при конструировании СВЧ-устройств коаксиального типа, с использованием СВЧ-коаксиальной брэгговской структуры. Результаты. Для реализации методики измерения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь материалов и структур использована измерительная секция в виде разборного отрезка коаксиальной линии передачи, внутри которого формируется КФК. Нечетные слои КФК представляли собой отрезки с диэлектрическим заполнением из тефлона, четные – отрезки с воздушным заполнением. Измеряемый образец играл роль нарушения периодичности брэгговской структуры, это приводило к возникновению дефектной моды в запрещенной зоне на его амплитудно-частотной характеристике (АЧХ). Для расчета коэффициентов прохождения и отражения использован метод матриц передачи, в котором брэгговская структура представлена в виде последовательно чередующихся участков с различными значениями волновых сопротивлений и постоянных распространения электромагнитной волны. Практическая значимость. На основе решения обратной задачи методом наименьших квадратов при использовании изме-ренных частотных зависимостей коэффициента пропускания и отражения на частоте дефектной моды в запрещенной зоне КФК были определены значения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь образцов, изготовленных из фторопласта, капролона, эбонита и текстолита. Предложенная методика может быть использована для измерения диэлектри-ческой проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь различных диэлектриков.