اندازه گیری همزمان مقادیر کم فسفات و سیلیکات به روش اسپکتروفتومتری و رگرسیون حداقل مربعات جزئی
Published in مجله شیمی کاربردی( اندیشه علوم ) • Jun 15, 2009
NobleIDNI0P67W38R04S09
Authors:,,
مهدی نکوئی
مجید محمدحسینی
حسن باقری
Abstract
یک روش اسپکتروفتومتری ساده، حساس و انتخابی برای اندازه گیری همزمان مقادیر کم فسفات وسیلیکات بر اساس تشکیل کمپلکسهای آبی رنگ فسفو- و سیلیکومولیبدینیوم در حضور اسکوربیک اسید شرح داده شده است. اگر چه کمپلکسهای فسفات و سیلیکات با واکنشگر، همپوشانی طیفی بالایی نشان می دهند اما آنها بطور همزمان بوسیله رگر...
Subject
Finding related papers...
Discussions
(0)No comments yet
Be the first to share your thoughts!