Поведенческая модель конденсаторной матрицы, учитывающая влияние паразитных элементов, в составе АЦП последовательного приближения
Published in Микроэлектроника • Jan 1, 2013
NobleIDNI1P45W81R03S25
Authors:,,
Д. Л. Осипов
Ю. И. Бочаров
В. А. Бутузов
Abstract
Представлен анализ влияния паразитных параметров на характеристики ЦАП на основе конденсаторной матрицы в АЦП последовательного приближения. На основе выполненного анализа создана Verilog-A модель конденсаторной матрицы. Рассмотрены преимущества использования данной модели в рамках методологии проек...
Subject
Finding related papers...
Discussions
(0)No comments yet
Be the first to share your thoughts!