极低和超低出生体重儿脑损伤的监测
Published in Zhonghua weichan yixue zazhi • Jan 16, 2013
Authors:
刘敬
Abstract
随着产前保健和新生儿医疗护理技术的进步,近20年来极低出生体重儿(very low birth weight infant,VLBWI)的存活率有了显著提高[1-2],但其神经系统伤残如脑性瘫痪及远期神经发育障碍等并没有相应减少[3-4].尤其那些超低出生体重儿(extremely low birth weight infant,ELBWI),其神经系统伤残的风险不但没有降低反在增加,包括住院期间颅脑影像学检查没有异常发现者[5-6];具有高危因素者,如多胎、曾接受产房内复苏、影像学检查存在明显脑损伤、接受呼吸机治疗、出生体重不足750 g者更易发生远期神经系统伤残[6-9]。
Subject
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