糖耐量减低和空腹血糖受损的研究现状
Published in Zhongguo jiceng yiyao • Feb 15, 2014
NobleIDNI3P78W78R79S15
Authors:
王寒啸
Abstract
在我国目前采用的WHO 1999年标准中,将在糖耐量实验(OGTT)中2 h血糖(2 hPG)≥7.8 mmol/L,但<11.1 mmol/L者定义为糖耐量减低(IGT);而将空腹血糖(FPG)≥6.1 mmol/L,但<7.0 mmol/L者定义为空腹血糖受损(IFG)[1].在诊断标准里,IGT和IFG统称为糖调节受损(IGR),不作为糖尿病(DM)的分型,而是被看做是糖代谢的一种状态,是糖尿病发展的一种阶段,认为是发生糖尿病和心血管疾病(CVD)的危险因子[2].目前,越来越多的研究提示,IGT和IFG与DM和CVD的关系非常密切,起最终出现DM和CVD的机会比普通人群要高得多.本文旨...
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