Рентгеновские исследования образцов микрокристаллического кремния для панелейсолнечных элементов
Published in Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019» • May 24, 2019
Abstract
Методом малоуглового рассеяния рентгеновских лучей (МУРР) исследованы два набора образцов микрокристаллического кремния (μc-Si), произведенного для дальнейшего использования в качестве рабочего материала панелей солнечных элементов. Технология производства предполагала, что в каждом из наборов образ...
Subject
Finding related papers...
Discussions
(0)No comments yet
Be the first to share your thoughts!