МЕТОДЫ ДВУХКРИСТАЛЬНОЙ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ И ТОПОГРАФИИ В АНАЛИЗЕ РЕАЛЬНОЙ СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛОВ
Published in Russian Agency for Digital Standardization • Nov 5, 2019
Authors:,,
Романов, Д.А.
Прохоров, И.А.
Волошин, А.Э.
Abstract
Кристаллы основа многочисленных приборов и устройств современной техники. Все реальные кристаллы содержат разнообразные несовершенства структуры, которые сильно, иногда кардинально, изменяют свойства кристаллов и оказывают непосредственное влияние на эксплуатационные характеристики приборов, изготов...
Finding related papers...
Discussions
(0)No comments yet
Be the first to share your thoughts!