ПРОЕКТИВНЫЕ МЕТОДЫ ПОВЫШЕНИЯ ТОЧНОСТИ АЦП
Published in Nanoindustry Russia • Jun 30, 2025
Authors:
О.А. Цыбульский
Abstract
Статья посвящена развитию методов повышения точности АЦП, основанных на проективной модели измерения. Методы учитывают интегральную нелинейность преобразования. Применен критерий, оценивающий эффективность измерительного преобразования АЦП.
Finding related papers...
Discussions
(0)No comments yet
Be the first to share your thoughts!