ПРОГНОЗИРОВАНИЕ ПОКАЗАТЕЛЕЙ БЕЗОТКАЗНОСТИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ НА ОСНОВЕ ПАРАМЕТРОВ НАДЕЖНОСТИ ИСПОЛЬЗУЕМОЙ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ
Published in Международная Звенигородская конференция по физике плазмы и управляемому термоядерному синтезу • Jun 30, 2026
NobleIDNI7P868W299R922S941
Authors:,,
А.В. Соловьев
Андрей Валерьевич Селецкий
А.В. Воеводин
Abstract
В работе рассмотрен подход к прогнозированию показателей безотказности ИС с использованием экспериментально определенных параметров надежности элементной базы. Предложены возможные пути улучшения стандартных подходов, направленных на повышение точности прогнозирования.
Finding related papers...
Discussions
(0)No comments yet
Be the first to share your thoughts!